サービス内容

表面解析サービス

Service

SGSジャパンでは、お客様のご要望に応じ、品質保証分野、生産技術材料開発分野における各種分析を、相談分析サービスとしてご提供いたします。

また、マイクロエレクトロニクスの研究分野で半世紀の歴史をもつInstitute Fresenius(独ドレスデン)との技術提携により、分析業務を拡大し、表面・局所の組成や化学結合状態など目的に応じたきめ細かい分析をご提供致します。

分析サービス項目

構成成分
元素比率
不純物濃度表面汚染
腐食分析
局所欠陥
異物分析など

分析方法

μ-FT-IR(顕微FT赤外分光)
XAM(X線分析顕微鏡)
SEM-EDS(分析走査電子顕微鏡)
XPS(X線光電子分光)
AES (オージェ電子分光)
SIMS及びTOF-SIMS (2次イオン質量分析法)
その他 (TEM断面観察、EPMA元素分析、SPM形態観察等)

分析例

実装基板の面分析(ex. 鉛[Pb]の元素マップ)



微小異物の面分析(鉛[Pb]の汚染分布)



FT-IR分析(構成成分)

スペクトルDB検索


ピーク分離


部分構造解析


顕微FT-IR分析

数十μm領域の分析
・反射法
・ATR法
・透過法


SEM-EDS元素マッピング



◎その他、表面解析に関してお気軽にお問い合わせください。

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